物理学论文_波移光纤弯折工艺中水浴温度对光纤

文章目录

1．实验测试准备

2．研究波移光纤经不同温度浸泡后衰减百分比的变化

3．研究波移光纤经不同温度水浴弯转后的光纤弯转损耗

3.1 波移光纤水浴弯转流程

3.2 检测波移光纤光纤弯转损耗

4．总结

文章摘要:本文介绍了闪烁体探测器的核心部件——波移光纤，经过不同温度水浴条件下弯转的光纤弯转损耗变化。通过对实验数据的处理可以得到，经75℃到85℃的温度范围内进行水浴弯转的波移光纤弯转损耗随着温度升高而逐渐减小；经85℃到95℃的温度范围内进行水浴弯转的波移光纤弯转损耗随着温度升高而逐渐增大；并推断在85℃下水浴弯转的波移光纤光纤弯转损耗最小，于是，进一步推断85℃是用于波移光纤弯折工艺的最适温度。

文章关键词:

论文分类号:TL812;TN253

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